鎢燈絲掃描電子顯微鏡SEM3200

國產電鏡鎢燈絲掃描電子顯微鏡SEM3200是一款高性能、應用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。
大景深，成像富有立體感。豐富的擴展性，助您在顯微成像的世界中盡情探索。

產品特點（*為選配件）

鎢燈絲掃描電子顯微鏡特色功能

豐富拓展性

掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察，更可以進行樣品表面的微區成分分析。

SEM3200接口豐富，除支持常規的二次電子探測器（ETD）、背散射電子探測器（BSED）、X射線能譜儀（EDS）外，也預留了諸多接口，如電子背散射衍射（EBSD）、陰極射線（CL）等探測器都可以在SEM3200上進行集成。

背散射電子探測器

二次電子成像和背散射電子成像對比

背散射電子成像模式下，荷電效應明顯減弱，并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。